發(fā)布時間:2019-01-24 瀏覽量:2260
微納米氣泡的檢測方法
盡管納米氣泡非常穩(wěn)定,但氣泡尺寸分布,氣泡數(shù)量和均勻尺寸將隨時間而變化。原子力顯微鏡通常用于界面納米氣泡檢測。體納米氣泡通常用于光散射,低溫電子顯微鏡和共振質(zhì)量測量,并且共振質(zhì)量測量是用于差異固體顆粒的簡單且方便的技術(shù)。納米氣泡溶液的特性將遵循納米氣泡的當量直徑,數(shù)量和尺寸分布的影響。不同的方法可能有不同的測量結(jié)果。微納米氣泡的檢測方法納米氣泡受布朗運動的影響很大,表面具有硬殼,其行為接近于固體納米粒子。因此,可以通過動態(tài)光散射測量納米氣泡,動態(tài)光散射通過樣品的反射波形變化來分析。波形受到粒子的布朗運動的影響,并且大氣泡的散射效應(yīng)很強,但并不確定它是慢的。 Stokes-Einstein公式用于計算松弛常數(shù)以確定粒子半徑。 D=kT /(3ηπd)(D=松弛系數(shù),k=玻爾茲曼常數(shù),T=絕對溫度,η=粘度,d=粒徑)。該方法更能夠測量每毫升10億納米的氣泡。分析整體信號可以得到氣泡的數(shù)量和大小分布,但不能得到每個氣泡的運動。納米氣泡運動需要納米粒子跟蹤分析。
納米粒子跟蹤分析,例如NanoSight,是一種相對分析方法,它使用光散射跟蹤小體積(80 pL)中的每個氣泡,以確定納米氣泡在特定時間在X或Y軸上的移動。粒子運動的速度由粒徑?jīng)Q定,體積越大,速度越小。納米粒子跟蹤分析可以分析相對于每ml至少107納米氣泡的動態(tài)光散射的較低濃度納米氣泡。
共振質(zhì)量測量是流經(jīng)共振跳板的納米氣泡的測量,共振跳板是一種相對較新的技術(shù),可清楚地區(qū)分固體和氣體納米顆粒。一微升的納米氣泡溶液以約12納升/分鐘的速度通過諧振器,并且感興趣的條件是每秒納米氣泡,其改變有用質(zhì)量并轉(zhuǎn)換成共振頻率。
Kurt計數(shù)器是用于病毒和細菌等微生物的計數(shù)裝置。它主要由兩個由不導(dǎo)電的薄分離器隔開的腔室組成。分離器具有與要計數(shù)的顆粒大小相似的單個孔。每個電池都有電極。當諸如納米氣泡的顆粒進入微管時,由于通過氣泡替換管中的液體,電阻發(fā)生變化,并且改性與顆粒的體積有關(guān)。該特征可用于計數(shù)和體積通過微管的納米氣泡。
可以使用高分辨率光學(xué)顯微鏡對直徑為500nm的大納米氣泡進行成像,并且查詢需要亞甲基藍。還存在用于檢測氣泡中的氣體組分的性質(zhì)的方法,例如紅外二氧化碳納米氣泡。
Zeta電位也經(jīng)常用作納米氣泡探索指南。當ζ電位相對較大時,這也是納米氣泡穩(wěn)定的原因,但這種潛力無法提供有關(guān)氣泡數(shù)量和體積的信息。
有人說納米氣泡的表面具有負電位,實際上是Zeta電位。納米氣泡和膠體顆粒在性質(zhì)上相似并且在表面上形成電位。這種潛力具有稱為Zeta電位的物理名稱。 Zeta電位峰值是當氣泡直接通過10-30微米時。隨著氣泡直線下降,潛力有可能下降。
由于顆粒表面上的電荷,周圍的反離子被吸引,并且這些反離子在兩相界面處以松弛狀態(tài)分布以形成松弛的雙層。測量zeta電位的方法主要包括電泳,電滲,主動電位法和超聲波法,中間采用電泳法。 Zeta電位分析儀可用于測量納米氣泡Zeta電位。
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